Keithleyオンライン・セミナ｜DC測定の基礎からSiC/GaN半導体など８種
開催日:2023/02/21(火) ～ 2023/02/22(水)
DC測定基礎からSiC/GaN特性評価や信頼性試験など全８セッション
- 高感度DC IV測定の基礎
- DMM多チャンネル化導入ガイド
- バッテリ駆動機器測定評価
- SiC・GaNの特性評価
- MEMS評価の実際
- 半導体テスト・システムの現状と展望
- 低電圧／高電圧半導体テスト・システム
- 恒温槽での信頼性試験・並列測定
Keithley Days 2022や以前のセミナでご好評いただいたセッションをピックアップしてお送りします。
- 電子デバイスの特性評価と高精度で実施するための基礎や実務的な考慮ポイント
- ワイドバンド・ギャップ半導体の評価
- ディスクリート部品や半導体デバイスの信頼性試験における具体的な手法と考慮ポイント
